手机版 |
产品分类 |
测厚仪
Bowman X射线荧光分析仪
Filmetrics F40光学膜厚测量仪
Filmetrics F20光学膜厚测量仪
薄膜分析仪Filmetrics F10-RT
Filmetrics F3光学膜厚测量仪
Filmetrics F3-sX光学膜厚测量仪
Filmetrics F10-HC光学膜厚测量仪
Filmetrics F10-AR薄膜分析仪
Filmetrics薄膜测厚仪F54
Filmetrics薄膜厚度测量仪测厚仪
测量/计量仪器
MicroXAM-800光学轮廓仪
Zeta-388白光共聚焦
Zeta-20白光共聚焦
KLA探针式表面轮廓仪P-17(台阶仪)
KLA探针式表面轮廓仪P-7(台阶仪)
光学仪器及设备
智能型多功能椭偏仪
全自动快速椭偏仪
多波长椭偏仪
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
HORIBA椭圆偏振光谱仪
其他
mini桌上型主动式隔振台
低频主动消磁器α200 G3000D
HERZ TS系列主动式隔震系统减震台
元素分析仪
Niton XRF手持式合金分析仪
手持分析仪XL2100G XRF
激光粒度仪
HORIBA LA960 V2激光粒度仪
光谱检测分析仪
LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪
联系方式 |
产品系列
产品描述
产品描述:
美国博曼(Bowman)Bowman BA-100 Optics 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。
Bowman BA-100 Optics机型采用业界***的多孔毛细管光学聚焦装置,有效缩小测量点斑点的同时,可数倍乃至数十倍提高X射线激发强度。
Bowman BA-100 Optics机型配备大面积的SDD(硅漂移探测器),有效拓展元素分析范围,适应*严格的微区、超薄镀层,以及痕量元素分析需求。
优秀的测试性能、突出的微区测量能力,Bowman BA-100 Optics机型是研究开发、质量管控的**XRF镀层厚度及元素成分分析仪器。
稳定的X射线管
● 微聚焦50瓦Mo靶射线管(其它靶材可选); 小于100um的测量斑点
● 射线出射点预置于射线管Be窗正中央
● 长寿命的射线管灯丝
● 独有的预热和ISO温度适应程序
多毛细管聚焦光学结构
● 显著提高X射线信号强度
● 获得较准直器机型数倍乃至数十倍的信号强度
● 小于100um直径的测量斑点
● 经过验证,接近**的测量精度
应用领域:
常见的镀层应用:
PCB行业
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引线框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半导体行业
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
线材
Sn/Cu
珠宝、贵金属
10,14,18Kt
元素分析、合金分类、杂质分析、溶液分析、电镀液分析等