手机版 |
产品分类 |
测厚仪
Bowman X射线荧光分析仪
Filmetrics F40光学膜厚测量仪
Filmetrics F20光学膜厚测量仪
薄膜分析仪Filmetrics F10-RT
Filmetrics F3光学膜厚测量仪
Filmetrics F3-sX光学膜厚测量仪
Filmetrics F10-HC光学膜厚测量仪
Filmetrics F10-AR薄膜分析仪
Filmetrics薄膜测厚仪F54
Filmetrics薄膜厚度测量仪测厚仪
测量/计量仪器
MicroXAM-800光学轮廓仪
Zeta-388白光共聚焦
Zeta-20白光共聚焦
KLA探针式表面轮廓仪P-17(台阶仪)
KLA探针式表面轮廓仪P-7(台阶仪)
光学仪器及设备
智能型多功能椭偏仪
全自动快速椭偏仪
多波长椭偏仪
Film Sense FS-1™多波长椭偏仪
HORIBA椭圆偏振光谱仪
其他
mini桌上型主动式隔振台
低频主动消磁器α200 G3000D
HERZ TS系列主动式隔震系统减震台
元素分析仪
Niton XRF手持式合金分析仪
手持分析仪XL2100G XRF
激光粒度仪
HORIBA LA960 V2激光粒度仪
光谱检测分析仪
LabRAM HR Evolution拉曼光谱仪
联系方式 |
产品系列
产品描述
Partica发展成就
业界高端激光粒度仪产品,以精确可靠著称的HORIBA Partica LA-950V2已全新升级为LA-960。
HORIBA系列粒度仪以在亚微米范围内的超强测量能力而闻名,新型号除了保有这一优势还发展出全新的特性。
HORIBA依据多年经验,进一步完善数据运算方法,以不断满足用户对更高精度和更高分辨率的追求。
新技术优性能
宽的动态测量范围:0.01-5000微米
HORIBA在宽粒径范围测量方面优势明显,的光学布局,采用三维数据模拟生成散射光谱图,可以与充分考虑到光学组件参数影响的理论计算结果进行比较,从而选择佳的分析方法。
新的运算方法使得20nm的认证样品的测量成为可能(见下图)。
性能保证
· 高精度 ±0.6%
· 标准依据ISO13320
· 可溯源支持
全球用户公认的品质
HORIBA一直专注于仪器重要关键部件的产品质量:光源和检测器校准。基于高科技研究实验室和质量控制管理等各种用户的需求,其循环系统效率高,操作快速,维护简便。同时我们根据用户预期用途,分析情况和操作频率的不同,提供专业的售后技术支持。
稳健可靠的光学设计:的光学系统确保高精度分析
60秒速操作:循环系统能迅速处理任何样品
HORIBA LA960 V2 激光粒度仪信息由HORIBA 科学仪器事业部为您提供,如您想了解更多关于HORIBA LA960 V2 激光粒度仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:对于医疗器械类产品,请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况