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薄膜分析仪Filmetrics F10-RT
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美国
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Filmetrics F10-RT 薄膜分析仪

同步测量薄膜的反射率/穿透率不需要费时改变硬件配置, F10-RT-UV 仅需要透过单击鼠标就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列

的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外, Filmetrics **的Autobaseline 设计可以减少十倍以上的基准校准的参数读取时间。

分析优点F10-RT 使 Filmetrics 的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击鼠标就能够产生在客户是定波长范围内,得出**与*小的反射率与穿透率。系统内置边缘检测分析与 FWHM 分析,以及能针线于常见的空间色彩系统的色彩分析(例如: CIELAB 与 CIEXYZ)。而测量光谱与其他的数据能够很容易的透过打印与导出或以 JPEG 图片形式来传送。同时,选配膜厚和参数解算模块使 F10-RT 具有与 Filmetrics F20相同多层薄膜分析能力。

健全、可靠的集成F10-RT 运送抵达时具有完整的标准配置,小巧的机身与 USB接口保证使您容易安装。整机无任何运动件,初钨卤素灯外

无需其他维护,确保设备高度可靠

Filmetrics 优势嵌入式在线诊断

免费离线分析软件

精细的历史数据功能,帮助用户有效的存

储,重现与绘制测量结果

免费现场演示/支持

点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演

示!我们,我们的应用工程师会在电

脑上为您演示薄膜测量是多么容易

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